Продукты

Рекомендуемые продукты

связаться с нами

Как технология лазерной гравировки P1-P4 от Lecheng повышает эффективность перовскитных модулей

2026-02-08

Как технология лазерной гравировки P1-P4 от Lecheng повышает эффективность перовскитных модулей

Точное формирование рисунка для минимизации мертвых зон.

Системы лазерной разметки Lecheng обеспечивают прорывную эффективность в перовскитных модулях благодаря микронной точности на всех четырех этапах формирования рисунка. Процесс P1 создает начальные изоляционные линии шириной 20-50 мкм и прямолинейностью ±5 мкм, чисто удаляя слои TCO без повреждения стеклянных подложек. Эта базовая точность позволяет последующим процессам P2 и P3 поддерживать постоянное расстояние между линиями 100-150 мкм, сокращая мертвые зоны на 30% по сравнению с традиционными методами. Запатентованная компанией технология отслеживания траектории динамически корректирует пути P2/P3 на основе фактического положения линий P1, компенсируя неровности подложки, которые обычно вынуждают производителей увеличивать запас прочности. Эта пространственная оптимизация напрямую увеличивает использование активной площади, что приводит к повышению эффективности преобразования энергии на 2-3% в коммерческих модулях.

Perovskite edge isolation P4

Регулирование теплового режима и сохранение целостности слоев

На каждом этапе нанесения рисунка используются специально подобранные параметры лазера для предотвращения термического повреждения чувствительных перовскитных слоев. Для формирования рисунка P2 через слои переноса заряда и перовскита зеленые пикосекундные лазеры Lecheng (532 нм) ограничивают зоны термического воздействия до <1 мкм, обеспечивая при этом полное удаление материала без повреждения нижележащего прозрачного проводящего оксида (TCO). В процессе P3 используются УФ-лазеры (355 нм) для точной изоляции металлических электродов, обеспечивая тепловую диффузию <0,5 мкм во избежание расслоения или микротрещин. Этот термоконтроль имеет решающее значение для поддержания качества интерфейса и снижения потерь на шунте, что приводит к сохранению коэффициента заполнения >95% на протяжении всего срока службы модуля. Интегрированные системы охлаждения поддерживают стабильность температуры ±0,5 °C во время высокоскоростной обработки, обеспечивая круглосуточную работу без снижения производительности.

P1 TCO layer scribing

Встроенная изоляция P4 Edge для повышения надежности.

Процесс удаления краев P4 завершает цикл оптимизации эффективности за счет устранения периферийных шунтирующих путей. Мощные волоконные лазеры Lecheng (≥1000 Вт) удаляют отложения по краям с точностью до 100 мкм, создавая изоляционные барьеры, предотвращающие утечку тока. Бесконтактный процесс позволяет избежать микротрещин, вызванных механическим напряжением, которые часто возникают при использовании методов с лезвиями. Такое герметизирование краев в сочетании с точным формированием рисунка P1-P3 приводит к получению модулей с разбросом эффективности менее 5% в разных производственных партиях, достигая стабилизированной эффективности >18% для коммерческих перовскитных продуктов. Вся последовательность нанесения рисунка выполняется в рамках единой автоматизированной системы, что снижает повреждения при транспортировке и поддерживает условия чистого помещения на протяжении всего производственного процесса.

green picosecond lasers

Разработанная компанией Lecheng интегрированная методика лазерной гравировки P1-P4 представляет собой целостный подход к оптимизации перовскитных модулей, где точное формирование рисунка, терморегулирование и управление кромками в совокупности раскрывают весь потенциал фотоэлектрической технологии третьего поколения.

40px

80px

80px

80px

Получить цену