Продукты

Рекомендуемые продукты

связаться с нами

Как проверить результаты лазерной обработки с помощью микроскопии и профилометрии

2026-02-01

Как проверить результаты лазерной обработки с помощью микроскопии и профилометрии

Точные измерения с помощью цифровой микроскопии

Цифровая микроскопия обеспечивает первичную проверку качества лазерной обработки, позволяя напрямую визуализировать критически важные параметры, такие как ширина линии разметки, прямолинейность кромки и морфология поверхности. Лазерные системы Леченг создают узоры P1-P3 с шириной линии ≤30 мкм, для проверки соответствия проектным спецификациям требуется микроскопия высокого разрешения (до 1000-кратного увеличения). Например, при производстве перовскитных солнечных элементов микроскопия выявляет незначительные дефекты, такие как микротрещины или неравномерная глубина абляции, которые могут вызвать утечку тока. Передовые программные средства измеряют точность размеров по сравнению с проектами САПР, а автоматизированный анализ изображений выявляет отклонения, превышающие допуски ±5 мкм. Этот неразрушающий метод имеет важное значение для контроля качества в крупносерийном производстве, где быстрые циклы проверки поддерживают производительность без ущерба для точности.

Lecheng laser equipment

Профилометрия для 3D-топографии и анализа глубины

В то время как микроскопия оценивает двумерные характеристики, профилометрия регистрирует трехмерную топографию для количественной оценки глубины лазерной абляции, шероховатости поверхности и углов конусности кромок. Леченг использует интерферометрию белого света и лазерные сканирующие профилометры для измерения глубины канавок P1-P3 с нанометровым разрешением, обеспечивая оптимальную электрическую изоляцию в тонкопленочных солнечных элементах. Например, профилометрия обнаруживает несоответствия глубины в царапинах P2, которые могут препятствовать контакту между ТКО и электродными слоями. Поперечные профили также подтверждают эффективность технологии следования за фокусом Леченга, демонстрируя равномерную глубину (±0,5 мкм) по всей поверхности деформированных подложек. Эти данные коррелируют с производительностью устройства — например, ширина мертвой зоны напрямую влияет на эффективность модуля — что позволяет усовершенствовать технологический процесс и повысить выход годной продукции.

Automated laser

Интегрированный рабочий процесс валидации для оптимизации процессов.

Компания Леченг объединяет микроскопию и профилометрию в единый рабочий процесс валидации, где данные обеих методик используются в аналитике на основе искусственного интеллекта для прогнозирования корректировки параметров лазера. Например, если профилометрия обнаруживает термические повреждения, превышающие 10 мкм, в стеклянных подложках, система автоматически рекомендует уменьшить длительность импульса или переключиться в режим холодной абляции. Аналогичным образом, микроскопические изображения изоляции краев P4 анализируются на предмет покрытия остатками, что запускает перекалибровку мощности лазера, если чистота падает ниже 98%. Эта замкнутая система валидации интегрирована с платформой Интернет вещей компании Леченг, что позволяет в режиме реального времени устанавливать корреляцию между параметрами оборудования (например, скоростью гальванометра) и показателями качества. В результате получается самооптимизирующаяся производственная линия, поддерживающая уровень дефектов ≤0,1% в таких высокоточных приложениях, как сварка медицинских изделий или резка панелей дисплеев.

Perovskite solar cell laser

Микроскопия и профилометрия преобразуют субъективные визуальные проверки в количественно измеримые критерии качества, позволяя клиентам Леченг достигать беспрецедентной точности в лазерной обработке. Интегрируя эти инструменты с интеллектуальной аналитикой, Леченг преодолевает разрыв между теоретическим проектированием и производственной реальностью.

  • Удаление края лазерного луча P4 для перовскитных солнечных элементов
    Удаление края лазерного луча P4 для перовскитных солнечных элементов
    Компания Леченг Разумный предлагает стабильное решение для удаления краев перовскитных солнечных элементов с помощью лазера P4, помогая клиентам добиться более чистой изоляции краев, лучшей совместимости с инкапсуляцией и повышенной надежности модулей. На этой странице представлен подход Леченг к обработке перовскитными фотоэлектрическими элементами с помощью лазера P4, с особым акцентом на качество краев, контроль мертвых зон и стабильность, ориентированную на производство.
    Более
  • Лазерная гравировка P3 для перовскитных солнечных элементов
    Лазерная гравировка P3 для перовскитных солнечных элементов
    Компания Леченг предлагает решения для лазерной гравировки P3 для перовскитных солнечных элементов, что помогает обеспечить чистую изоляцию элементов, стабильное качество линии и лучшую интеграцию модулей. Подходит для лабораторных исследований, пилотных линий и масштабируемого производства фотоэлектрических элементов.
    Более
  • Лазерная гравировка P2 для перовскитных солнечных элементов
    Лазерная гравировка P2 для перовскитных солнечных элементов
    Если вы хотите изучить более широкую инженерную логику интеграции P1, P2, P3 и P4, а также полную конфигурацию линии, посетите нашу соответствующую страницу, посвященную производственной линии перовскитных лазеров. Эта внутренняя статья помогает повысить актуальность темы, касающейся лазерной гравировки P2 для перовскитных солнечных элементов, обработки перовскитных лазеров и решений для пилотных линий по производству перовскитов.
    Более
  • Лазерная гравировка P1 для перовскитных солнечных элементов
    Лазерная гравировка P1 для перовскитных солнечных элементов
    Компания Леченг Разумный предлагает стабильное решение для лазерной гравировки P1 в перовскитных солнечных элементах, помогая клиентам добиться чистой изоляции проводящего слоя, лучшей стабильности линий и большей технологической совместимости для лабораторных исследований, пилотных линий и масштабируемого производства. На этой странице с описанием кейса показано, как Леченг подходит к лазерной гравировке на ранних стадиях производства перовскитных фотоэлектрических элементов, уделяя особое внимание точности, защите подложки и непрерывности процесса на последующих этапах.
    Более
  • Решения АМ0 для солнечного симулятора
    Решения АМ0 для солнечного симулятора
    Высокоточные решения для моделирования солнечной энергии АМ0, предназначенные для тестирования космических фотоэлектрических систем, исследований перовскитных солнечных элементов, спектральной оценки и проверки характеристик современных солнечных устройств. Компания Леченг Разумный предлагает ориентированные на технологические процессы решения для моделирования солнечного излучения АМ0, предназначенные для клиентов, которым требуется нечто большее, чем просто базовое осветительное оборудование. Наше решение разработано с учетом спектральной точности, равномерности облучения, временной стабильности, оптического формирования и гибких режимов тестирования, помогая исследовательским группам и производителям создавать более надежную платформу для тестирования солнечных элементов в космосе, тестирования перовскитных фотоэлектрических элементов и оценки передовых фотоэлектрических устройств.
    Более

40px

80px

80px

80px

Получить цену